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DuraSiC^®は、pg电子娱乐官网游戏地址半導体のより高い信頼性を持つ製品シリーズで、NovuSuperior（AEC-Q101+）規格に従って厳格に検証され、100%WLTBI (Wafer-Level Test & Burn-In)テストに合格し、潜在的に酸化膜欠陥を持つ不良品チップをスクリーニングします。

FR MOSFET（Fast Recovery MOS）は、少数キャリア寿命制御技術を利用して高速回復特性を実現したパワー MOSデバイスです。ボディダイオードの導通電圧降下がより低くなり、逆回復時間がより短くなります。